異物分析
異物分析,是專門分析產品上的微小嵌入異物或表面污染物、析出物進行之成分的技術。例如對表面嵌入異物、斑點、油狀物、噴霜等異常物質進行定性分析,藉此找尋污染源或配方不相容者,是改善產品較常用的分析方法之一。
測試方法
根據異物的實際情況選用合適的紅外光譜圖采樣方法,從而獲得異物高質量的紅外光譜圖??梢愿鶕愇锛t外光譜圖官能團的吸收峰來確定異物的化學組成,一種簡單的方法是通過儀器軟件進行譜庫檢索,跟譜庫中的標準紅外光譜圖的進行對比來確定異物的化學組成。
紅外顯微鏡采集紅外光譜圖步驟
①根據異物的實際情況選擇合適的采集紅外光譜圖方法,常用的采集方法有反射法、透射法和衰減全反射法等;
②從OMNIC軟件中設定好實驗參數條件;
③找到并聚焦所需要測量的異物;
④點擊COLLECT SAMPLE,同普通樣品采集方法,根據提示進行異物紅外光譜圖采集。
測試方法分類
異物分析主要涉及三個方面,一是異物的有機物結構分析,主要用紅外顯微鏡-FTIR;二是異物或材料表面的元素成分分析,主要用電子探針(EPMA)、掃描電鏡能譜儀(SEM-EDX)、多功能光電子能譜儀(XPS)、能量色散型微區X 射線熒光光譜儀(μEDX)等;三是表面觀察,主要用光學顯微鏡(OM)和電子顯微鏡(比如SEM)。